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[动态]两项国家标准起草研讨会在我市召开 |
2016/3/25 10:37:13 来源:市质监局 打印本页 |
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日前,连云港市质监局根据国家标准化管理委员会标准制修订计划安排,组织召开了《电子封装用球形二氧化硅微粉中晶体二氧化硅含量的测试方法——XRD法》和《电子封装用球形二氧化硅微粉球化率的检测方法——光电投影法》两项国家标准起草工作组的第二次研讨会。全国半导体设备和材料标准化技术委员会、电子封装材料标准工作组、化学矿标准化技术委员会、国家硅材料产品质量监督检验中心、江苏联瑞新材料有限公司、汉高华威电子有限公司等多家单位成员参加了会议。
会上,与会专家针对两项标准的编制说明、标准草案进行了认真分析和深入讨论,并提出了详尽的修改意见,最终形成了会议纪要。标准起草工作组将在会议纪要的基础上,进一步修改完善,形成征求意见稿。这两项国家标准的制定,加强了我市电子封装技术机构和企业间的技术交流,对规范行业发展,促进新产品应用起到积极推动作用。
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